bronzová úroveň ověřený automaticky US beta
Úroveň certifikace: bronzová úroveň 23 October 2015 Co to v praxi znamená: Datová sada splňuje základní požadavky na otevřená data.
High Quality, Low-Scatter SiC Optics Suitable for Space-based UV & EUV Applications Project
Shrnutí
- Co poskytovatel nabízí?
- a one-off release of a single dataset
- Databázová licence
- Nevztahuje se
- Licence na obsah
- Creative Commons CCZero
- Způsob ověření
- ověřený automaticky
- Datum vydání
- 9 April 2015
- Datum poslední změny
- 8 July 2015
- Vydavatel
- National Aeronautics and Space Administration
- Klíčová slova
- completed, goddard-space-flight-center, project
- Identifier
- high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje
- Landing Page
- http://techport.nasa.gov/view/7746
- Maintainers
- Paul Mexcur hq-techport@mail.nasa.gov
- Language
- en-US
Ověření certifikátu komunitou
Správnost údajů na tomto certifikátu může ověřit kdokoliv.
Aktuální způsob ověření: ověřený automaticky
Přihlašte se, pak můžete certifikát ověřit nebo nahlásit.
Popis
SSG Precision Optronics proposes the development and demonstration of a new optical fabrication process for the production of EUV quality Silicon Carbide (SiC) optics. The process combines three technologies to provide a cost and schedule effective solution for lightweight, thermally stable precision optics for EUV applications. First, near-net-shape cast SiC materials for monolithic lightweighted, SiC mirror substrates with minimal machining required. Second, a thin CVD SiC sputter deposition process applied to the mirror facesheet. This enables a low-scatter surface as well as high reflectance in the EUV band. Third, the application of Tinsley?s computer controlled optical surfacing (CCOS) grinding and polishing makes it possible to generate aspheres with extremely accurate surfaces. The manufacturing process proposed allows production of state-of-the-art SiC aspheric mirrors with numerous benefits compared to competing technologies and traditional processes: ?Excellent Surface Figure Accuracy (<0.01 waves RMS, over low and mid-spatial-frequency measurements); ?Ultra-low micro-roughness (<10 Angstroms RMS routine, <1 Angstrom RMS achievable); ?Improved yield; ?Very low areal densities (~10 kg/m2 at an aperture of 1 meter); ?Superior thermal stability (SiC bulk material properties); In Phase 2, SSGPO will demonstrate an optimized optical fabrication process by producing a SiC EUV flight-ready optic.
Obecné informace
-
Dokumentace
http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Poskytovatel
National Aeronautics and Space Administration Do you think this data is incorrect? Let us know
Právní informace
-
Právní prohlášení
http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Under which licence can people outside the US reuse this data?
Creative Commons CCZero Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Obsah chráněný autorským právem
yes, and the rights are all held by the same person or organisation Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Licence obsahu
Creative Commons CCZero Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná data právního prohlášení
licence k datům Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Ochrana soukromí
nehraje roli, data se netýkají fyzických osob Do you think this data is incorrect? Let us know
Praktické informace
-
Relevantní datové katalogy
http://catalog.data.gov/organization/nasa-gov Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Zastarávání
data časem zastarají, ale mají časové razítko Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Zálohování dat
data jsou zálohována offsite Do you think this data is incorrect? Let us know
Technické informace
-
URL datové sady
http://techport.nasa.gov/xml-api/7746 Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojová čitelnost
strojově čitelné Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Formát dat
standardizovaný, otevřený Do you think this data is incorrect? Let us know
Sociální informace
-
Strojově čitelná metadata
název Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
popis Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
hlavní URL Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
URL dokumentace Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
poskytovatel Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
klíčová slova Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
distribuce Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
datum vydání Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
datum poslední změny Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
související časové období Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata
jazyk Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata k distribucím
datum vydání Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata k distribucím
URL pro přístup k datům Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata k distribucím
URL datové sady Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Strojově čitelná metadata k distribucím
typ média Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Kontakty
http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know
-
Zpětná vazba k publikovaným datovým sadám
http://www.data.gov/issue/?media_url=http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know