bronzová úroveň ověřený automaticky US beta

Úroveň certifikace: bronzová úroveň 23 October 2015 Co to v praxi znamená: Datová sada splňuje základní požadavky na otevřená data.

High Quality, Low-Scatter SiC Optics Suitable for Space-based UV & EUV Applications Project

Shrnutí

Co poskytovatel nabízí?
a one-off release of a single dataset

Databázová licence
Nevztahuje se

Licence na obsah
Creative Commons CCZero

Způsob ověření
ověřený automaticky

Datum vydání
9 April 2015
Datum poslední změny
8 July 2015
Vydavatel
National Aeronautics and Space Administration
Klíčová slova
completed, goddard-space-flight-center, project
Identifier
high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje
Landing Page
http://techport.nasa.gov/view/7746
Maintainers
Paul Mexcur hq-techport@mail.nasa.gov
Language
en-US

Ověření certifikátu komunitou

Správnost údajů na tomto certifikátu může ověřit kdokoliv.

Aktuální způsob ověření: ověřený automaticky

Přihlašte se, pak můžete certifikát ověřit nebo nahlásit.


Popis

SSG Precision Optronics proposes the development and demonstration of a new optical fabrication process for the production of EUV quality Silicon Carbide (SiC) optics. The process combines three technologies to provide a cost and schedule effective solution for lightweight, thermally stable precision optics for EUV applications. First, near-net-shape cast SiC materials for monolithic lightweighted, SiC mirror substrates with minimal machining required. Second, a thin CVD SiC sputter deposition process applied to the mirror facesheet. This enables a low-scatter surface as well as high reflectance in the EUV band. Third, the application of Tinsley?s computer controlled optical surfacing (CCOS) grinding and polishing makes it possible to generate aspheres with extremely accurate surfaces. The manufacturing process proposed allows production of state-of-the-art SiC aspheric mirrors with numerous benefits compared to competing technologies and traditional processes: ?Excellent Surface Figure Accuracy (<0.01 waves RMS, over low and mid-spatial-frequency measurements); ?Ultra-low micro-roughness (<10 Angstroms RMS routine, <1 Angstrom RMS achievable); ?Improved yield; ?Very low areal densities (~10 kg/m2 at an aperture of 1 meter); ?Superior thermal stability (SiC bulk material properties); In Phase 2, SSGPO will demonstrate an optimized optical fabrication process by producing a SiC EUV flight-ready optic.


Obecné informace


Právní informace

Tuto datovou sadu vytvořila vláda Spojených států, což znamená, že je považována za veřejné dílo. Americké autorské právo ale přiznává otevřený přístup pouze americkým občanům, takže předpokládáme, že pro zbytek světa jsou data v souladu s americkou politikou otevřených dat licencována pod CC Zero.
  • Právní prohlášení

    http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Under which licence can people outside the US reuse this data?

    Creative Commons CCZero Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Obsah chráněný autorským právem

    yes, and the rights are all held by the same person or organisation Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Licence obsahu

    Creative Commons CCZero Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná data právního prohlášení

    licence k datům Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Ochrana soukromí

    nehraje roli, data se netýkají fyzických osob Do you think this data is incorrect? Let us know


Praktické informace

  • Relevantní datové katalogy

    http://catalog.data.gov/organization/nasa-gov Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Zastarávání

    data časem zastarají, ale mají časové razítko Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Zálohování dat

    data jsou zálohována offsite Do you think this data is incorrect? Let us know


Technické informace

  • URL datové sady

    http://techport.nasa.gov/xml-api/7746 Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojová čitelnost

    strojově čitelné Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Formát dat

    standardizovaný, otevřený Do you think this data is incorrect? Let us know


Sociální informace

  • Strojově čitelná metadata

    název Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    popis Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    hlavní URL Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    URL dokumentace Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    poskytovatel Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    klíčová slova Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    distribuce Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    datum vydání Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    datum poslední změny Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    související časové období Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata

    jazyk Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata k distribucím

    datum vydání Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata k distribucím

    URL pro přístup k datům Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata k distribucím

    URL datové sady Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Strojově čitelná metadata k distribucím

    typ média Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Kontakty

    http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know

  • Zpětná vazba k publikovaným datovým sadám

    http://www.data.gov/issue/?media_url=http://catalog.data.gov/dataset/high-quality-low-scatter-sic-optics-suitable-for-space-based-uv-amp-euv-applications-proje Do you think this data is incorrect? Let us know